Laboratorio ANALISI MICROSTRUTTURALE
Milano
Il laboratorio è dedicato allo studio microstrutturale di materiali solidi mediante microscopia ottica (OM Leica Modello XXXX) e microscopia elettronica in scansione ad alta risoluzione (risoluzione limite 1.6 nm) tramite un microscopio Hitachi SU-70.
E’ inoltre dotato di un diffrattometro con i raggi X Bragg-Brentano θ-2θ (Simens D500 con generatore ed elettronica DFP) per la caratterizzazione delle fasi cristallografiche in materiali policristallini, la stima dello stato deformativo e la misurazione delle tensioni residue dei materiali.
Il laboratorio è altresì attrezzato con tutta la strumentazione chimica dedicata alla preparazione dei campioni per osservazioni cristallografiche attraverso le tecniche sopra menzionate.
In particolare per quanto riguarda il microscopio a scansione Hitachi-SU70, tale strumentazione è dotata di:
- detector in camera convenzionali per osservazioni con elettroni secondari (SEI) e retrodiffusi (BEI) (Fig. 3a);
- detector in colonna dedicati all’alta risoluzione per l’osservazione superficiale di campioni massivi, e detector dedicato all’osservazione di campioni sottili in trasmissione (STEM) per l’analisi della microstruttura interna dei materiali (Fig.2);
- sonda per spettroscopia a dispersione di energia (EDS) per analisi microanalitiche semi-quantitative con detector LN free SDD di ultima generazione con elevata risoluzione in energia ed elevate velocità di acquisizione (fino a 60000 cps) per mappe elementari ad alta risoluzione spaziale (Fig. 3b);
- sistema di acquisizione per pattern di diffrazione alla Kikuchi per analisi cristallografiche superficiali ad elevata risoluzione spaziale di campioni massivi mediante la tecnica EBSD (Fig. 4).
PARCO STRUMENTALE:
- Microscopio ottico metallografico Leitz DM RNE;
- Microscopio elettronico a scansione Hitachi SU-70 per alta risoluzione (risoluzione limite 1.6 nm) con:
- detector convenzionali in camera per elettroni secondari (E-T) e retrodiffusi allo stato solido;
- detector per alta risoluzione in colonna per elettroni secondari e retrodiffusi con filtro di energia;
- detector per elettroni trasmessi (STEM) a scintillazione + fotomoltiplicatore ad alto contrasto;
- sistema microanalitico di spettroscopia a dispersione di energia (EDS) con detector LN free SDD;
- sistema per l’acquisizione dei pattern di diffrazione da elettroni retrodiffusi (EBSD) per la mappatura cristallografica di superficie ed il calcolo delle tessiture cristallografiche;
- Diffrattometro a raggi X Siemens D500;
- Strumenti convenzionali di preparazione metallografica;
- Apparato per l’assottigliamento elettrolitico Tenupol della Struers per la preparazione di campioni sottili per l’osservazione in microscopia elettronico in trasmissione.
- Laser a diodi lanciato in fibra ottica: Laserwave 250 W – 980 nm