Giunto alla quarta edizione, il corso “Microscopia elettronica in scansione per metallurgisti”, vuole riconfermare i contenuti che hanno caratterizzato le precedenti edizioni.

Il Comitato Tecnico di Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali dell’AIM organizza un Corso in cui si forniscono le basi teoriche e pratiche di un corretto utilizzo del SEM, e l’introduzione alle molteplici tecniche microanalitiche ad esso integrate.

L’iniziativa si rivolge a quanti, nel mondo industriale e nella ricerca, vogliono affrontare la microscopia elettronica in scansione con maggior consapevolezza, in quanto operatori del SEM, oppure perché fruitori dei risultati da esso prodotti.

Il Corso si svolgerà in due giornate dove verranno affrontati gli aspetti teorici dello strumento SEM e delle varie tecniche microanalitiche, e le applicazioni pratiche a casi studio affrontati con differenti tipologie di strumenti

Tra i coordinatori del corso figurano i Dr. Giuliano Angella e Dr. Paola Bassani, mentre saranno presenti come relatori i Dr. Dario Ripamonti e Dr. Riccardo Donnini, di ICMATE-CNR.